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國際內審師知識點:統計分析(過程控制技術)

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距離2016國際內審師考試的時間越來越近了,下面是yjbys小編整理的關於《內部審計實務》統計分析(過程控制技術)部分的知識點,歡迎大家閱讀參考,更多內容請關注應屆畢業生網!

國際內審師知識點:統計分析(過程控制技術)

 統計分析(過程控制技術)

統計過程控制是藉助數理統計方法的過程控制工具。它對生產過程進行分析評價,根據反饋資訊及時發現系統性因素出現的先兆,並採取措施消除其影響,使過程維持在僅受隨機性影響的受控狀態,以達到控制質量的目的。 由於過程波動具有統計規律性,當過程受控時,過程特性一般服從穩定的隨機分佈;而失控時過程分佈將發生改變。SPC利用過程波動的統計規律對過程進行分析控制。

統計學家開發出能夠直觀跟蹤過程(程式)的技術,稱為統計控制圖,根據跟蹤的事項不同,分別被稱為P型圖、C型圖、R型圖和x條形圖,等等。P型圖和C型圖用於跟蹤屬性;R型圖和X條型圖用於跟蹤變數。

統計質量控制,是用於決定裝運量或生產量是否在可接受限度內的一種方法,它也常用於決定生產程式是否已經失去了控制。它有助於監督與隨機變數相關的任何程式的進展狀態。統計過程控制的有關術語:

● 指定原因,是指引起變化的非隨機原因。

● 鍾型曲線,又被稱為正態曲線,是總體中隨機變數形成的的正態分佈曲線圖。它是完全對稱的,均值、中數和眾數都位於同一中心點,很多值分佈在中間點附近,數值越小,離中間點的距離越遠。

● C型圖,是指一種追蹤一群樣本中屬性變化的控制圖(能夠被計算的數值,例如錯誤)。

● 差異係數,是用樣本標準離差除以均值計算出來的,表明了樣本變化程度與均值數值的相關程度有多大。

● 描述統計學,是統計學的一個分支,與資料的收集、分析、描述和說明有關,尤其是與樣本引數(例如,均值、中數、眾數、程度、差異、標準離差)的計算有關。

● 推斷統計學,是統計學的一個分支,與從挑選出來的樣本推斷出總體結論有關。

● 控制下限,在控制圖中從負方向離平均值最遠的數值,但是這些值還位於統計控制範圍內。

● 平均絕對離差,是分佈圖中的每個數值距離分佈圖中的平均值的平均距離(差額總和除以分佈圖中的專案數量)。

● 均值,以希臘字母μ表示,是樣本的中間點,是把樣本中所有專案的數值加總,然後除以樣本中專案數量。通常,均值也被稱為平均值,是描述樣本中心趨勢的計量單位。

● 中數,是由位於樣本中所有數值中間點位置的數值來代表的中心趨勢的計量單位,位於其之上和之下的數值數額相等。

● 眾數,是由祥本中最常出現數值所代表的中心趨勢的.計量單位。

● 自然原因,也被稱為一般原因,是引起樣本變化的隨機原因。

● 失去控制,在控制圖中,一個失去控制的數值位於控制上限(UCL)之上,控制下限(LCL)之下,表明被描述的過程可能處於統計控制之外。

● P型圖,是一種追蹤多個樣本中以百分數計量的錯誤(或其他屬性)變化程度的控制圖。

● R型圖,是追蹤多個樣本中數值範圍變化程度的控制圖。

● 控制上限。在控制圖中,控制上限(UCL)是以正方向離均值最遠的數值,但是還處於統計控制範圍內。

● 差異,是計量樣本中數值與樣本中所有數值的均值的分散程度。差異的符號是σ2,是每個數值與均值的差的平方的平均值。差異的平方根就是樣本的標準離差。

● X條形圖,是一種追蹤多個樣本中均值變化的控制圖。

期望值與概率密切相關,用於選擇最好備選方案。期望值等於每個備選方案與其發生概率相乘的乘積的總和。期望值最大的方案應是最優方案。完全資訊的期望值(EVPI)是指缺少完全資訊的期望值和擁有完全資訊並採取了最佳行動後所獲得的收益之間的差額。